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二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

二手FIB+雙束FIB+場發射電鏡在高科技領域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術的企業，其產品在全球范圍內被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業的第三方供應商，現提供現貨供應的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

二手SEM+EDX場發射電鏡:超高分辨率：場發射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠實現表面形貌觀察和成分分析。

sigma500 二手蔡司場發射電鏡是蔡司公司推出的高性能設備，它采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，能提供優秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設備專注于EDS幾何學設計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應用程序，獲取微小粒子、表面、納米結構等多種圖像信息

二手日立SU-8010場發射電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

二手HITACHI-SU8010高分辨場發射掃描電鏡場發射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

（2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察。

二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態進行詳細檢查。SEM的主要優點之一是能夠實現高分辨率成像。

二手蔡司場發射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。

二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。