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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節，景深大，能清晰呈現三維形貌，可同時進行成分分析。

二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。

二手蔡司場發射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息

二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數：5×～1000000×，連續可調 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

二手鎢燈絲電鏡 二手SEM: 日本電子，日立，FEI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場發射電鏡。

二手 JSM-IT300經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現對樣品表面的形貌的觀察。

二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有所提高

二手蔡司場發射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產品配備有經過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內二次電子探測器。SUPRA™系列場發射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導體事業部的納米技術系統部向市場推出的功能最多的場發射掃描電子顯微鏡。具有當前儀器所具有的所有特征：如在圖像質量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩定性、全分析型樣品室。