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二手 日立 S-4800冷場發射電鏡觀察和檢測體相及納米結構的固態無機材料（非磁性）等表面形貌和組成

二手 日立 S-4700 冷場發射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對樣品進行微區成分分析。

二手 日立 SU-8010 冷場發射電鏡真空系統采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設備的真空度高達10-8Torr。該設備在高倍模式下放大倍數100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時達到1.0nm，在加速電壓1KV時達到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX:場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征.

二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場發射電鏡 ?是一種優良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發射電子源和電子光學系統。場發射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統的熱發射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現更高的分辨率。

二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點為全數字化控制系統，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。

二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實現了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能”＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標準。

二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進行結構和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應對當今人 們廣博的研究方向這一挑戰。“分析任何樣品，得到所有數據”， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質和元素組成。

二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析。