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二手 日立 S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察和檢測(cè)體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無機(jī)材料（非磁性）等表面形貌和組成

二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

二手 日立 SU-8010 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達(dá)10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時(shí)達(dá)到1.0nm，在加速電壓1KV時(shí)達(dá)到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.

二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實(shí)現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能”＊1、以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器”＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。

二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對(duì)掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對(duì)當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)。“分析任何樣品，得到所有數(shù)據(jù)”， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質(zhì)和元素組成。

二手 蔡司 SEM SUPRA25 掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、 織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析。